A.物鏡的物平面;
B.物鏡的像平面
C.物鏡的背焦面;
D.物鏡的前焦面。
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A.中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合;
B.中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合;
C.關(guān)閉中間鏡;
D.關(guān)閉物鏡。
A.第二聚光鏡光欄;
B.物鏡光欄;
C.選區(qū)光欄;
D.其它光欄。
A.球差;
B.像散;
C.色差;
D.A+B。
A.1000;
B.10000;
C.40000;
D.600000。
A.絲狀粉末多晶;
B.塊狀粉末多晶;
C.塊狀單晶;
D.任意形狀。
最新試題
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。
電子探針的能譜儀和波譜儀比較,波譜儀()。
當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交,交線是一個(gè)圓環(huán),環(huán)上每一點(diǎn)都滿足衍射條件,可以產(chǎn)生衍射。
與光鏡呈像相比,掃描電鏡圖像立體感強(qiáng),形態(tài)逼真,這是由于掃描電鏡的()比光鏡大100-500倍。
差熱分析中,若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí),記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的()。
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。
拉曼光譜分析儀在使用過(guò)程中,正確的實(shí)驗(yàn)操作有()。