在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

拉曼光譜分析時(shí)，1500cm-1以上的譜帶必定是一個(gè)基團(tuán)的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

熱分析中對(duì)樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

簡(jiǎn)單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí)，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說(shuō)法正確的是（）。