利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

當倒易球與反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產生衍射。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

拉曼光譜分析時，1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。