問(wèn)答題為何對(duì)稱入射時(shí),即只有倒易點(diǎn)陣原點(diǎn)在愛(ài)瓦爾德球面上,也能得到除中心斑點(diǎn)以外的一系列衍射斑點(diǎn)?

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孔徑半角越小,衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

題型:判斷題

在體心點(diǎn)陣中,當(dāng)(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí),產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

題型:判斷題

在電子探針面分析中,根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布,可確定該元素在試樣中分布情況,亮區(qū)代表元素含量()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

題型:判斷題

1887年,Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

題型:判斷題

掃描電鏡的背散射電子像中,圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)()暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。

題型:判斷題

電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。

題型:判斷題

電子探針的能譜儀和波譜儀比較,波譜儀()。

題型:多項(xiàng)選擇題

X射線衍射儀中,通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖,常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題