電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

當?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。