問(wèn)答題哪些因素影響著透射電鏡的分辨率?它們的影響程度如何?如果透射電鏡的分辨率極高,此時(shí)它的景深和焦長(zhǎng)如何?
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4.問(wèn)答題敘述用X射線儀檢測(cè)的誤差來(lái)源。
5.問(wèn)答題敘述如何用X射線進(jìn)行物相分析及注意事項(xiàng)。
最新試題
電子束與固體樣品作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品()的增加而增多。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
變形振動(dòng)分為()。
題型:多項(xiàng)選擇題
簡(jiǎn)單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí),可以產(chǎn)生衍射的晶面為()。
題型:多項(xiàng)選擇題
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
題型:判斷題
被樣品原子核反彈回來(lái)的入射電子稱為非彈性背散射電子,能量基本上沒(méi)有損失。
題型:判斷題
與光鏡呈像相比,掃描電鏡圖像立體感強(qiáng),形態(tài)逼真,這是由于掃描電鏡的()比光鏡大100-500倍。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
題型:判斷題
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
題型:判斷題
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。
題型:判斷題
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu),晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
題型:判斷題