在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

簡單立方結(jié)構材料發(fā)生衍射時，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

變形振動分為（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。