1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

電子束與固體樣品作用時(shí)，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí)，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

拉曼光譜分析時(shí)，1500cm-1以上的譜帶必定是一個(gè)基團(tuán)的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。