A、1﹕1
B、2﹕1
C、1﹕2
D、沒有確定比例
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.采用大的相機(jī)半徑;
B.采用X射線較長的波長;
C.選用大的衍射角;
D.選用面間距較大的衍射面。
A.30度;
B.60度;
C.90度。
A、溫度升高引起晶胞膨脹
B、使衍射線強(qiáng)度減小
C、產(chǎn)生熱漫散射
D、改變布拉格角
E、熱振動(dòng)在高衍射角所降低的衍射強(qiáng)度較低角下小
A、晶粒大小對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
B、參加衍射晶粒數(shù)目對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
C、衍射線位置對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
D、試樣形狀對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
A、晶粒大小對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
B、參加衍射晶粒數(shù)目對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
C、衍射線位置對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
D、試樣形狀對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
最新試題
在紅外光譜分析中,基本振動(dòng)區(qū)是指()。
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線,說法正確的是()。
關(guān)于X射線衍射儀的測量動(dòng)作,說法正確的是()。
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
在電子探針面分析中,根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布,可確定該元素在試樣中分布情況,亮區(qū)代表元素含量()。
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的()。
1887年,Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
在電子探針中,測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡寫為()。
電子束與固體樣品作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品()的增加而增多。
掃描電鏡的背散射電子像中,圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)()暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。