A、正比計(jì)數(shù)器
B、蓋革計(jì)數(shù)器
C、閃爍計(jì)數(shù)器
D、A和B
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你可能感興趣的試題
A、正裝法
B、反裝法
C、偏裝法
D、任意安裝都可
A、塊狀
B、分散
C、圓柱形
D、任意形狀
A、相機(jī)半徑越大,分辨率越高
B、θ角越大,分辨率越高
C、X射線波長(zhǎng)越小,分辨率越高
D、晶面間距越大,分辨率越低
A、1﹕1
B、2﹕1
C、1﹕2
D、沒(méi)有確定比例
A.采用大的相機(jī)半徑;
B.采用X射線較長(zhǎng)的波長(zhǎng);
C.選用大的衍射角;
D.選用面間距較大的衍射面。
最新試題
電子束與固體樣品作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品()的增加而增多。
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
在體心點(diǎn)陣中,當(dāng)(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí),產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
電子探針的能譜儀和波譜儀比較,波譜儀()。
變形振動(dòng)分為()。
掃描電鏡的背散射電子像中,圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)()暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。
X射線衍射儀中,通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖,常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為()。
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。