（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒(méi)有影響。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

差熱分析中，若試樣沒(méi)有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

拉曼光譜分析儀在使用過(guò)程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

拉曼光譜分析時(shí)，1500cm-1以上的譜帶必定是一個(gè)基團(tuán)的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。