晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

關于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。