單項(xiàng)選擇題AVG曲線也叫(),描述了距離-波幅增益量-缺陷當(dāng)量尺寸三者之間的關(guān)系。
A.SGD曲線
B.GDS曲線
C.SDG曲線
D.DGS曲線
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1.單項(xiàng)選擇題AVG曲線中,以距離作為橫坐標(biāo);以()作為縱坐標(biāo)。
A.波幅增益量
B.缺陷當(dāng)量尺寸
C.距離
D.以上都不對(duì)
2.單項(xiàng)選擇題在AVG曲線中,以聲波傳播的()作為橫坐標(biāo);以波幅高度作為縱坐標(biāo)。
A.波幅增益量
B.缺陷當(dāng)量尺寸
C.距離
D.以上都不對(duì)
3.單項(xiàng)選擇題使聲束指向性變差的原因是()。
A.缺陷的反射幅度低
B.被檢材料表面過(guò)分粗糙
C.回波的寬度大
D.以上都對(duì)
4.單項(xiàng)選擇題探頭中使用壓電陶瓷晶片的優(yōu)點(diǎn)是()。
A.激勵(lì)電脈沖的寬度
B.發(fā)射電路阻尼電阻的大小
C.晶片的材料和厚度
D.晶片的機(jī)電耦合系數(shù)
5.單項(xiàng)選擇題厚度相同,材料相同時(shí),()工件對(duì)超聲波的衰減大。
A.鋼鍛件
B.鑄鋼件
C.鋼板
D.上述工件的衰減相同
最新試題
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗,后沖孔,再滾壓。因此,缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對(duì)這類鍛件一般采用()進(jìn)行檢測(cè)。
題型:多項(xiàng)選擇題
滲透檢測(cè)通常在()前進(jìn)行,表面處理后局部加工時(shí)需再次檢測(cè)。
題型:多項(xiàng)選擇題
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
屬于γ射線探傷設(shè)備的操作故障有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
鋼材的熱處理的一般過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)()。
題型:多項(xiàng)選擇題
用半價(jià)層描述的某種能量的射線是指()。
題型:多項(xiàng)選擇題
底片靈敏度的檢查內(nèi)容包括像質(zhì)計(jì)()要達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。
題型:多項(xiàng)選擇題
探傷儀面板上負(fù)責(zé)掃描電路的控制旋鈕有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
板波的類型有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
下列關(guān)于顯像劑粉末吸附缺陷中滲透劑的說(shuō)法正確的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題