A.縱橫向間距
B.類型（T）
C.樣式（S）
D.旋轉(zhuǎn)（R）
E.捕捉
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.坐標(biāo)系分為世界坐標(biāo)系（WCS）和用戶坐標(biāo)系（UCS）兩種
B.用戶可以設(shè)置UCS的原點(diǎn)及X、Y、Z的方向
C.用UCSIC0N命令可以控制坐標(biāo)系圖標(biāo)是否在視口中顯示
D.WCS圖標(biāo)UCS圖標(biāo)一定在各自的原點(diǎn)處顯示
E.WCS圖標(biāo)和UCS圖標(biāo)不同
A.圖層名
B.顏色
C.作圖范圍
D.線型
E.文本樣式
A.不可以使用TRIM命令修剪多線
B.可以用MLED1T命令編輯多線
C.多線不可分解
D.在用MLEDIT命令編輯多線時，選擇多線的次序不同，其編輯效果也不同
E.多線可以有不同的線型、顏色構(gòu)成
A.路徑陣列
B.矩形陣列
C.正多邊形陣列
D.環(huán)形陣列
E.橢圓形陣列
A.選擇圖形后按鼠標(biāo)右鍵拖動，然后在彈出的快捷菜單中選擇取消
B.用M0VE命令
C.選擇圖形后按鼠標(biāo)左鍵或右鍵拖動
D.選擇圖形進(jìn)入夾點(diǎn)后按鼠標(biāo)右鍵，在彈出的快捷菜單中選擇移動
E.用PAN命令合
最新試題
綜合型CAPP系統(tǒng)也稱為半創(chuàng)成式CAPP系統(tǒng)，它將（）與創(chuàng)成式結(jié)合起來。
用于從圖形觀察者的角度對世界坐標(biāo)系中的物體進(jìn)行重新定位的描述，屬于左手直角坐標(biāo)系，用戶可以根據(jù)圖形觀察和顯示的要求自由設(shè)定位置和方向，這個坐標(biāo)系是（）
當(dāng)鏡像草圖實體時，（）幾何關(guān)系被添加。
采用重疊測試法進(jìn)行消隱判斷時，如果其投影的多邊形的外接矩形相互不重疊，就能直接判斷這兩個多邊形互不遮擋。
B樣條曲線的基函數(shù)次數(shù)與控制點(diǎn)個數(shù)無關(guān)。
?繪制陽臺時，如圖所示的雙斜線，表示（）。
平面圖的文字標(biāo)注主要來標(biāo)明（）。
工程圖中的正二軸測投影，即兩個坐標(biāo)軸的軸向伸縮系數(shù)為1，第三個坐標(biāo)軸的軸向伸縮系數(shù)為0.5。
工藝決策的過程是以（）為依據(jù)，按照預(yù)先規(guī)定的決策邏輯，調(diào)用相關(guān)的知識和數(shù)據(jù)，進(jìn)行必要的比較，推理和決策，生成所需零件加工工藝規(guī)程的過程。
用可見性測試方法測試時，當(dāng)該表面的法矢量N與視線矢量S的點(diǎn)積為正時，該表面為可見面。