A.光入射角大于臨界角
B.光入射角小于臨界角
C.光入射角等于臨界角
D.光入射角大于等于臨界角
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A.負(fù)電子親和勢(shì)陰極;
B.電子光學(xué)系統(tǒng);
C.微通道板MCP;
D.光纖面板;
A.P區(qū)
B.N區(qū)
C.結(jié)區(qū)
D.玻璃窗
A.增強(qiáng)型;
B.時(shí)間延遲型;
C.電子轟擊模式;
D.紅外;
A、編碼
B、模擬
C、量化
D、抽樣
A、外差探測(cè)基于兩束光波在探測(cè)器光敏面上的相干效應(yīng)。
B、外差探測(cè)適宜弱光信號(hào)的探測(cè),直接探測(cè)適宜強(qiáng)光信號(hào)的探測(cè)。
C、與外差探測(cè)相比直接探測(cè)具有良好的濾波性能。
D、外差探測(cè)具有高的轉(zhuǎn)換增益。
最新試題
軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的()等方面。
電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場(chǎng)強(qiáng)度可能呈()。
幾何變換的光電檢測(cè)方法,是利用光束傳播的()、成像等光學(xué)變換方法進(jìn)行的光電檢測(cè)和控制。
紅外檢測(cè)技術(shù)是集光電成像、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理于一身的綜合光電檢測(cè)技術(shù)。
下列含有CCD圖像器件的是()。
在紅外數(shù)字計(jì)數(shù)器中,每當(dāng)物件通過(guò)紅外對(duì)射管中間一次,紅外光被遮擋一次,光電接收管的輸出電壓就發(fā)生一次變化。
以下屬于光電檢測(cè)儀器的有()。
具有可變電阻型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括()。
在光電檢測(cè)技術(shù)中,對(duì)交變光信號(hào)的動(dòng)態(tài)響應(yīng)通常采用時(shí)域法處理。
以下主要利用光電子發(fā)射效應(yīng)的光電器件有()。