在紅外數(shù)字計(jì)數(shù)器中，每當(dāng)物件通過(guò)紅外對(duì)射管中間一次，紅外光被遮擋一次，光電接收管的輸出電壓就發(fā)生一次變化。

計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測(cè)方法的關(guān)注點(diǎn)是（）。

具有恒流源型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括（）。

對(duì)于相干檢測(cè)方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號(hào)檢測(cè)的對(duì)比度和增大交變分量的幅值。

電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場(chǎng)強(qiáng)度可能呈（）。

成像測(cè)量法存在的問(wèn)題，是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí)，會(huì)造成放大倍率的變化，這會(huì)（）測(cè)量精度。因此，需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問(wèn)題。

光電探測(cè)器的選擇要點(diǎn)包括（）。

激光衍射測(cè)量技術(shù)的基本原理是利用激光照明下的菲涅爾衍射效應(yīng)。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

以下主要利用光電子發(fā)射效應(yīng)的光電器件有（）。