單項(xiàng)選擇題像管中()的出現(xiàn)和使用,成為第三代像管出現(xiàn)的標(biāo)志性部件。
A.負(fù)電子親和勢(shì)陰極;
B.電子光學(xué)系統(tǒng);
C.微通道板MCP;
D.光纖面板;
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1.單項(xiàng)選擇題為了使雪崩光電二極管正常工作,應(yīng)在其P-N結(jié)上加()。
A.高反向偏壓
B.低正向偏壓
C.高正向偏壓
D.低反向偏壓
2.單項(xiàng)選擇題最安全的成像是()。
A.CT
B.IR
C.X-Ray
D.THz
3.單項(xiàng)選擇題硅光電二極管與硅光電池相比,前者比后者不正確的說(shuō)法是()
A.襯底摻雜濃度高;
B.電阻率高;
C.光敏面小;
D.前者反偏后者無(wú)偏;
4.單項(xiàng)選擇題光纖的數(shù)值孔徑與()有關(guān)。
A.纖芯的直徑
B.包層的直徑
C.相對(duì)折射率差
D.光的工作波長(zhǎng)
5.單項(xiàng)選擇題下列像管的性能指標(biāo)()的值越高,像管的成像質(zhì)量越好。
A.光電轉(zhuǎn)換特性;
B.等效背景照度;
C.畸變;
D.暗電流;
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紅外檢測(cè)技術(shù)是集光電成像、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理于一身的綜合光電檢測(cè)技術(shù)。
題型:判斷題
在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路時(shí),需解決下面()的動(dòng)態(tài)計(jì)算問(wèn)題。
題型:多項(xiàng)選擇題
下列哪些儀器可以用于微弱光信號(hào)的檢測(cè)?()
題型:多項(xiàng)選擇題
以下屬于聲光調(diào)制晶體的有()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
以下是CCD的發(fā)明者有()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
以下主要利用光電子發(fā)射效應(yīng)的光電器件有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場(chǎng)強(qiáng)度可能呈()。
題型:多項(xiàng)選擇題
軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的()等方面。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
具有恒流源型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括()。
題型:多項(xiàng)選擇題
具有光伏型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括()。
題型:多項(xiàng)選擇題