A：根據(jù)Cp不能估計(jì)缺陷率，根據(jù)Cpk才能估計(jì)缺陷率
B：根據(jù)Cp和Cpk都能估計(jì)缺陷率
C：缺陷率與Cp和Cpk無(wú)關(guān)
D：以上說(shuō)法都不對(duì)
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A.本測(cè)量系統(tǒng)從精確度/過(guò)程波動(dòng)比（R&R%）來(lái)說(shuō)是完全合格的
B.本測(cè)量系統(tǒng)從精確度/過(guò)程波動(dòng)比（R&R%）來(lái)說(shuō)是勉強(qiáng)合格的
C.本測(cè)量系統(tǒng)從精確度/過(guò)程波動(dòng)比（R&R%）來(lái)說(shuō)是不合格的
D.上述數(shù)據(jù)不能得到精確度/過(guò)程波動(dòng)比（R&R%），從而無(wú)法判斷
A.本測(cè)量系統(tǒng)從%P/T角度來(lái)說(shuō)是完全合格的
B.本測(cè)量系統(tǒng)從%P/T角度來(lái)說(shuō)是勉強(qiáng)合格的
C.本測(cè)量系統(tǒng)從%P/T角度來(lái)說(shuō)是不合格的
D.上述數(shù)據(jù)不能得到%P/T值，從而無(wú)法判斷
A.被測(cè)對(duì)象不變，測(cè)量人員不變，各次獨(dú)立重復(fù)測(cè)量結(jié)果之間的差異；
B.被測(cè)對(duì)象不變，在不同初始狀態(tài)的設(shè)定下，各次測(cè)量結(jié)果之間的差異；
C.同一測(cè)量人員，對(duì)各個(gè)被測(cè)對(duì)象各測(cè)一次，測(cè)量結(jié)果之間的差異；
D.以上都不是。
A.臺(tái)秤有較大偏倚（Bias），需要校準(zhǔn)
B.臺(tái)秤有較大的重復(fù)性誤差，已不能再使用，需要換用精度更高的天平。
C.臺(tái)秤存在較大的再現(xiàn)性誤差，需要重復(fù)測(cè)量來(lái)減小再現(xiàn)性誤差。
D.測(cè)量系統(tǒng)沒(méi)有問(wèn)題，臺(tái)秤可以使用。
A.72.4%
B.23.5%
C.95.9%
D.以上答案都不對(duì)
最新試題
全面生產(chǎn)維護(hù)TPM的目的是：（）。
下面關(guān)于六西格瑪管理概念的理解中最不適當(dāng)?shù)氖牵ǎ?/p>
100年來(lái)全球管理的發(fā)展歷經(jīng)了4個(gè)階段，分別為檢驗(yàn)管理、保障管理、改善管理和（）
下面哪個(gè)是生成響應(yīng)曲面最簡(jiǎn)單的設(shè)計(jì)（）
做ANOVA分析時(shí)，得出P=0.02，（α=0.05），則可做以下結(jié)論（）
一個(gè)用于優(yōu)化電子控制模塊可靠性的2水平5因子試驗(yàn)，只實(shí)施全因子試驗(yàn)設(shè)計(jì)次數(shù)的一半。問(wèn)這個(gè)試驗(yàn)的分辨率是？（）
DOE設(shè)計(jì)中，有9個(gè)因子，只有32次實(shí)驗(yàn)機(jī)會(huì)，請(qǐng)問(wèn)以下答案錯(cuò)誤的是：（）
在實(shí)施六西格瑪項(xiàng)目時(shí)，力場(chǎng)分析（Force Field Analysis）方法可用于（）.
某個(gè)2水平的全因子DOE設(shè)計(jì)包括4個(gè)因子（其中之一乃離散屬性的）加3個(gè)中心點(diǎn)，6次仿行，請(qǐng)問(wèn)如果你執(zhí)行Minitab里的Stat>DOE>Factorial>Create Factorial Design..你會(huì)總共得到多少個(gè)運(yùn)行次數(shù)？（）
小李計(jì)算在受控狀態(tài)下流程的Cp和Cpk：Cp=3.20andCpk=3.15．一個(gè)月后小李重新計(jì)算的結(jié)果為：Cp=3.20andCpk=0.67.小李應(yīng)該：（）