A.消除缺陷信號(hào)
B.補(bǔ)償儀器溫度漂移
C.抵消探頭零電勢
D.減小激勵(lì)信號(hào)相位變化
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A.產(chǎn)生靈敏度降低
B.產(chǎn)生異狀的哨叫
C.產(chǎn)生間隙振盈
D.產(chǎn)生周期性噪聲
A.相關(guān)技術(shù)
B.相移技術(shù)
C.相位迭加技術(shù)
D.相位分析技術(shù)
A.幅度
B.相位
C.頻率
D.波形
A.快速掃描的點(diǎn)探頭和多通道探傷儀器
B.穿過式探頭和多通道探傷儀器
C.內(nèi)插式探頭和單通道探傷儀器
D.混合式探頭和多通道探傷儀器
A.幾十兆周
B.幾百千周
C.幾千周
D.幾百周
最新試題
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注，確保定位準(zhǔn)確。
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù)，直至缺陷完全排除。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）
為了提高射線照相對比度，可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
檢測申請時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求，檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)，確保焊接、檢驗(yàn)、檢測等全過程具有可追溯性。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是（）。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
在射線照相檢驗(yàn)中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
航天無損檢測人員的資格分為三個(gè)等級：Ⅰ級為初級，Ⅱ級為中級，Ⅲ級為高級。其中Ⅱ級人員應(yīng)具備的能力有（）。