A.線圈中試樣的電導率
B.線圈中試樣的磁導率
C.填充系數(shù)
D.上述的三項
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A.引起流過檢驗線圈的電流的增加
B.引起流過檢驗線圈的電流的減少
C.對流過檢驗線圈的電流無影響
D.使加到線圈的電壓降低
A.100HZ
B.10KHZ
C.1MHZ
D.10MHZ
A.提離效應
B.邊緣效應
C.填充系數(shù)
D.相位鑒別
A.測量磁導率的變化
B.測量電導率的變化
C.測量不導電復層的厚度
D.確定合適的檢驗頻率
A.減少提離的變化
B.減少探頭的磨損
C.減少操作人員的疲勞
D.消除邊緣效應
最新試題
射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴加控制。
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
缺陷分類應符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
補焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負責,對兩個補焊區(qū)交界部位補焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時,X光室應予以配合。
X光檢驗組按復查清單組織復查,并出具X光底片復查報告,復查無遺留問題方可進行試壓。
一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認,檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
像質計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應不小于識別閾值。