A.回波頻率變化是由介質(zhì)對(duì)不同頻率超聲波衰減不同而引起的
B.對(duì)于金屬材料介質(zhì),衰減的主要原因是散射
C.由于高頻部分衰減大,低頻部分衰減小,回波信號(hào)中心頻率下降
D.衰減造成各頻率分量聲壓的下降,但回波信號(hào)的中心頻率沒有改變
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A.寬帶探頭波束中包含各種不同頻率分量
B.高頻分量分布在波束中心的附近
C.低頻分量分布在波束的邊緣
D.用儀器測(cè)量周期時(shí)間計(jì)算得到的直通波頻率,實(shí)際上是回波頻率而不是探頭發(fā)出的信號(hào)頻率
A.窄帶寬
B.中帶寬
C.寬帶寬
D.帶寬與粗晶材料檢測(cè)特性無關(guān)
A.提高帶寬有利于縱向分辨力的提高,但將使靈敏度損失
B.壓電復(fù)合材料不須采用背阻尼來提高帶寬
C.TOFD探頭的帶寬一般指-6dB帶寬
D.一般規(guī)定帶寬在76-110%范圍的探頭為寬帶探頭
A.可加工形狀復(fù)雜的探頭
B.聲速、聲阻抗等參數(shù)易于改變
C.在較大溫度范圍內(nèi)特性穩(wěn)定
D.價(jià)格低
A.減少平均數(shù)數(shù)量
B.減少需要進(jìn)行數(shù)字化采樣的A掃長度
C.減少數(shù)字化采樣的頻率
D.以上都對(duì)
最新試題
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。