光纜線路的割接方式分為（）和（）兩大類。

光由折射率為n1的光密介質(zhì)射向折射率為n2的光疏介質(zhì)時(shí)（n1＞n2），臨界角的正弦值為（）。

造成光纜線路障礙的原因大致可分為外力因素、（）、（）、光纜自身缺陷等四大類。

光纜的中繼段測(cè)試又稱為（）測(cè)試。

目前用OTDR測(cè)量單模光纖，最常用的測(cè)試波長(zhǎng)是（）。

單模光纖色散的主要因素是（）。

OTDR監(jiān)測(cè)光纖熔接損耗的三種主要方式是（）、（）和（）。

凡是影響到光纜線路通信質(zhì)量的內(nèi)在或外在的各種因素均稱為（）。根據(jù)隱患的性質(zhì)可將隱患分為（）和（）兩種。

光纖余長(zhǎng)的兩個(gè)主要作用是（）和（）。

依據(jù)光纜線路維護(hù)規(guī)程，以光纜進(jìn)入傳輸站（或中繼站）的第一個(gè)光纖連接器（ODF架上）為界，連接器外側(cè)（即光纜側(cè)）的線路設(shè)備屬于（）的維護(hù)范圍，而連接器（包括適配器）內(nèi)側(cè)至光端機(jī)的光跳線部分屬于（）維護(hù)范圍。