單項(xiàng)選擇題對(duì)于各向同性的磁介質(zhì)，磁介質(zhì)中任一點(diǎn)的（）大小與磁場(chǎng)強(qiáng)度成正比。
A.磁化強(qiáng)度
B.所處磁場(chǎng)
C.漏磁場(chǎng)
D.磁通量
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1.單項(xiàng)選擇題監(jiān)測(cè)輻射場(chǎng)中的工作人員到某一時(shí)刻為止已經(jīng)接受了多少照射量或吸收劑量的是（）監(jiān)測(cè)。
A.周圍環(huán)境
B.個(gè)人劑量
C.工作場(chǎng)所
D.透照室內(nèi)
2.單項(xiàng)選擇題一年照射的有效劑量當(dāng)量很少可能超過5mSv（0.5rem），對(duì)這種工作場(chǎng)所應(yīng)（）。
A.經(jīng)常性的監(jiān)測(cè)
B.定期進(jìn)行監(jiān)測(cè)
C.根據(jù)需要進(jìn)行監(jiān)測(cè)
D.不需要監(jiān)測(cè)
3.單項(xiàng)選擇題用60Co 射線源對(duì)球形儲(chǔ)罐全景曝光選擇（）增感屏。
A.鉭
B.鋼或銅
C.不用
D.熒光
4.單項(xiàng)選擇題工藝評(píng)定對(duì)接焊縫試件檢驗(yàn)項(xiàng)目不包括（）。
A.外觀檢查
B.斷面宏觀金相試驗(yàn)
C.力學(xué)性能試驗(yàn)
D.無損檢測(cè)
5.單項(xiàng)選擇題X 射線機(jī)低壓電路絕緣電阻應(yīng)大于（）。
A.1MΩ
B.0.5MΩ
C.1.5MΩ
D.2MΩ
最新試題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
冷裂紋常見的有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無腐蝕的耦合劑是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
在沒有外加磁場(chǎng)作用時(shí)，鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)（）現(xiàn)象。
題型：多項(xiàng)選擇題
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。
題型：多項(xiàng)選擇題
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié)，儀器長(zhǎng)期不用，應(yīng)做到（），以驅(qū)除潮氣，防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
題型：多項(xiàng)選擇題
聚焦聲源發(fā)射的聲場(chǎng)特點(diǎn)是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū)，說法正確的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
與一次射線相比，散射線的（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
無損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括（）驗(yàn)收。
題型：多項(xiàng)選擇題