A.信噪比低
B.增大端部不可探區(qū)
C.周向靈敏度不均
D.易磨損探頭
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下圖為試件電導(dǎo)率變化引起線圈阻抗變化的軌跡,比較圖中A、B兩點(diǎn)的電導(dǎo)率應(yīng)為()。
A.σA=σB
B.σA<σB
C.σA>σB
D.無關(guān)系
A.增加
B.減半
C.減小3/4
D.增加3倍
A.缺陷
B.電導(dǎo)率
C.尺寸
D.以上三項(xiàng)都可以
A.檢測頻率降低
B.線圈電感降低
C.線圈電阻降低
D.上述三項(xiàng)都對
最新試題
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測量,測試時(shí)儀器抑制置“零”或“開”位,必要時(shí)可加匹配線圈。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會(huì)受到影響。
由于超聲波對進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。
當(dāng)探頭的性能不佳時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)很難判斷是哪個(gè)主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實(shí)際位置。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
檢測曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。