A.提出假設H0:μ≤100;H1:μ>100
B.提出假設H0:μ≥100;H1:μ<100
C.檢驗統(tǒng)計量及所服從的概率分布為
D.如果Z>Zα,則稱與μ0的差異是顯著的,這時拒絕H0
E.檢驗結(jié)果認為該類型的電子元件的使用壽命確實有顯著提高
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小樣本情況下,總體均值檢驗的統(tǒng)計量可能為()。
A.A
B.B
C.C
D.D
E.E
A.(-∞,-z0.10)和(z0.10,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
B.(-∞,-z0.05)和(z0.05,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
C.(-∞,-t0.10)和(t0.10,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
D.(-∞,-t0.05)和(t0.05,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
E.若檢驗統(tǒng)計量的絕對值越大,則原假設越容易被拒絕
A.實測顯著性水平P值<顯著性水平α
B.P值>α
C.Z<Z0
D.Z>Z0
E.Z>Zα/2
A.在顯著性α水平下,檢驗假設H0:μ=μ0;H1:μ≠μ0的假設檢驗,稱為雙側(cè)假設檢驗
B.右側(cè)檢驗和左側(cè)檢驗統(tǒng)稱為單側(cè)檢驗
C.在顯著性α水平下,檢驗假設H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設檢驗,稱為左側(cè)檢驗
D.在顯著性α水平下,檢驗假設H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設檢驗,稱為右側(cè)檢驗
E.在顯著性α水平下,檢驗假設H0:μ≤μ0;H1:μ>μ0的假設檢驗,稱為右側(cè)檢驗
A.原假設為真時被拒絕的概率
B.原假設為真時被接受的概率
C.原假設為偽時被拒絕的概率
D.原假設為偽時被接受的概率
最新試題
A某家公司進行審計,該公司年度內(nèi)的所有發(fā)票是66400張,審計人員從中隨機抽查了100張發(fā)票進行審查,發(fā)現(xiàn)有2張發(fā)票有差錯。則總體是100張發(fā)票,樣本是2張發(fā)票。()
重點調(diào)查和典型調(diào)查屬于抽樣調(diào)查的范疇,是非全面調(diào)查。()
產(chǎn)量總指數(shù)為()。
A客觀現(xiàn)象進行實地觀測所取得的數(shù)據(jù)是實驗數(shù)據(jù)。()
抽樣調(diào)查和重點調(diào)查的主要區(qū)別是選取調(diào)查單位的方式不同。()
成本總指數(shù)為()。
第二手數(shù)據(jù)可以通過抽樣調(diào)查獲得。()
重點調(diào)查和典型調(diào)查均屬于非概率抽樣。()
產(chǎn)量變動對總成本的影響程度和金額分別為()。
只有當相關(guān)系數(shù)接近于1時,才能說明兩變量之間存在高度相關(guān)關(guān)系。()