A.e－2
B.3e－2
C.5e－2
D.7e－2
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A.(0，a)
B.(a，b)
C.(0，b)
D.(0，0)
A.t分布的概率密度函數(shù)在整個(gè)軸上呈偏態(tài)分布
B.t分布的概率密度函數(shù)在正半軸上呈偏態(tài)分布
C.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布N(0，1)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
D.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與二項(xiàng)分布b(n，p)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
A.產(chǎn)品的壽命檢驗(yàn)
B.冶金類產(chǎn)品的檢驗(yàn)
C.化工類產(chǎn)品檢驗(yàn)
D.毫無統(tǒng)計(jì)規(guī)律可言的事物的檢驗(yàn)
A.e－2
B.3e－2
C.5e－2
D.7e－2
已知一批電阻的電阻值服從正態(tài)分布，
A.φ(2．08)
B.1-φ(2．08)
C.φ(16．64)
D.1-φ(16．64)
設(shè)隨機(jī)變量Z的分布列為
X:135
P:0.40.50.1
則E(X)為（）。
A.1.1
B.2.4
C.1.6
D.1.0
A.0.535
B.0.303
C.0.380
D.0.335
A.西格瑪水平Z
B.綜合缺陷數(shù)ZPU
C.單位缺陷數(shù)DPU
D.首次產(chǎn)出率FTY
E.流通合格率RTY
A.檢驗(yàn)水平Ⅰ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力低
B.檢驗(yàn)水平Ⅰ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力高
C.檢驗(yàn)水平Ⅲ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力高
D.檢驗(yàn)水平Ⅲ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力低
E.以上說法都不正確
A.2-2Ф(4)
B.1-Ф(4)
C.2Ф(4)
D.2Ф(4)-1
最新試題
對(duì)檢驗(yàn)水平判別能力的高低說法恰當(dāng)?shù)氖牵ǎ?/p>
抽樣檢驗(yàn)不適用于（）。
假設(shè)檢驗(yàn)的基本步驟包括（）。
某公司加工某種規(guī)格的軸，其直徑要求為φ10±o．03(mm)。長期檢驗(yàn)結(jié)果表明，其直徑均值為μ=9．99(mm)，標(biāo)準(zhǔn)差為σ=0.005(mm)。該過程的偏移系數(shù)K為（）。
一鑄件上的缺陷數(shù)X服從泊松分布，每鑄件上的平均缺陷數(shù)是0.5，則：一鑄件上僅有一個(gè)缺陷的概率為（）。
已知一批電阻的電阻值服從正態(tài)分布，
設(shè)隨機(jī)變量x服從二項(xiàng)分布b(10，0.9)，則其均值與標(biāo)準(zhǔn)差分別為（）。
下面關(guān)于t分布的說法，正確的有（）。
六西格瑪管理中常用的度量指標(biāo)有（）。
設(shè)隨機(jī)變量2服從λ＝2的泊松分布，則P(X≤2)＝（）。