A.P(X≤1)=0.135
B.P(X≤l)=0.406
C.P(X≤l)=0.271
D.以上都不對
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A.檢驗(yàn)水平Ⅰ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力低
B.檢驗(yàn)水平Ⅰ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力高
C.檢驗(yàn)水平Ⅲ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力高
D.檢驗(yàn)水平Ⅲ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力低
E.以上說法都不正確
A.0.535
B.0.303
C.0.380
D.0.335
設(shè)隨機(jī)變量Z的分布列為
X:135
P:0.40.50.1
則E(X)為()。
A.1.1
B.2.4
C.1.6
D.1.0
A.(0,a)
B.(a,b)
C.(0,b)
D.(0,0)
A.t分布的概率密度函數(shù)在整個軸上呈偏態(tài)分布
B.t分布的概率密度函數(shù)在正半軸上呈偏態(tài)分布
C.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布N(0,1)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
D.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與二項(xiàng)分布b(n,p)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
最新試題
抽樣檢驗(yàn)不適用于()。
設(shè)X服從λ=2的泊松分布,則P(X≤1)約為()。
一個n=3的樣本觀測值8.5,10,11.5中樣本變異系數(shù)為()。
六西格瑪管理中常用的度量指標(biāo)有()。
假設(shè)檢驗(yàn)的基本步驟包括()。
從參數(shù)λ=0.4得指數(shù)分布中隨機(jī)抽取樣本量為25的一個樣本,則該樣本均值的標(biāo)準(zhǔn)差為()
設(shè)隨機(jī)變量x服從二項(xiàng)分布b(10,0.9),則其均值與標(biāo)準(zhǔn)差分別為()。
一鑄件上的缺陷數(shù)X服從泊松分布,每鑄件上的平均缺陷數(shù)是0.5,則:一鑄件上僅有一個缺陷的概率為()。
下面關(guān)于t分布的說法,正確的有()。
已知一批電阻的電阻值服從正態(tài)分布,