多項(xiàng)選擇題WDS一種測(cè)定()與()函數(shù)關(guān)系的裝置

A.X射線強(qiáng)度
B.X射線波長(zhǎng)
C.X射線能量
D.晶面間距


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1.多項(xiàng)選擇題EDS是一種測(cè)量()與()函數(shù)關(guān)系的設(shè)備

A.X射線強(qiáng)度
B.X射線波長(zhǎng)
C.X射線能量
D.晶面間距

2.多項(xiàng)選擇題Moseley關(guān)系式中,各字母的含義表述正確的是()

A.ν為元素的特征X射線頻率
B.Z為原子序數(shù)
C.K為常數(shù)
D.σ為常數(shù)

3.單項(xiàng)選擇題WDS的結(jié)構(gòu)中,不包括()

A.計(jì)數(shù)器狹縫
B.衍射晶體
C.探測(cè)器
D.濾波片

4.單項(xiàng)選擇題EDS分析中,應(yīng)選用點(diǎn)分析方法的是()

A.材料中晶界
B.材料中雜質(zhì)
C.材料中相分布
D.元素偏析

5.單項(xiàng)選擇題XRF壓片制樣時(shí),不能作為粘結(jié)劑的是()

A.甲基纖維素
B.粉煤灰
C.硼酸
D.石蠟

最新試題

差熱分析中,若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí),記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

簡(jiǎn)單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí),可以產(chǎn)生衍射的晶面為()。

題型:多項(xiàng)選擇題

電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。

題型:判斷題

在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測(cè)定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

題型:判斷題

()需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu),晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

題型:判斷題

拉曼光譜分析儀在使用過程中,正確的實(shí)驗(yàn)操作有()。

題型:多項(xiàng)選擇題

掃描電鏡的背散射電子像中,圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)()暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。

題型:判斷題

利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。

題型:判斷題