多項(xiàng)選擇題X射線衍射儀由（）組成。
A.X射線管
B.測(cè)角儀
C.探測(cè)器
D.計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
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1.單項(xiàng)選擇題一束X射線照射到晶體上能否產(chǎn)生衍射取決于（）
A.是否滿足布拉格條件
B.衍射強(qiáng)度是否I≠0
C.A+B
D.晶體形狀
2.多項(xiàng)選擇題X射線衍射儀不能分析的樣品形態(tài)是（）
A.粉末樣品
B.薄膜樣品
C.塊狀樣品
D.液體樣品
最新試題
在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型：判斷題
變形振動(dòng)分為（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。
題型：判斷題
掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。
題型：判斷題
在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
題型：判斷題
紅外光分為（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
題型：判斷題