單盤(pán)測(cè)試中，光特性參數(shù)包括（）、（）和（）。

光纜線路測(cè)試包括光纜線路的工程測(cè)試和（）。

光纖的熔接操作一般分為光纖端面的制備、（）和（）三個(gè)步驟。

單模光纖色散的主要因素是（）。

光纜線路的割接方式分為（）和（）兩大類。

凡是影響到光纜線路通信質(zhì)量的內(nèi)在或外在的各種因素均稱為（）。根據(jù)隱患的性質(zhì)可將隱患分為（）和（）兩種。

造成光纜線路障礙的原因大致可分為外力因素、（）、（）、光纜自身缺陷等四大類。

光纖的兩個(gè)主要傳輸特性分別是（）和（），它們決定光纖通信系統(tǒng)的（）和（）。

OTDR監(jiān)測(cè)光纖熔接損耗的三種主要方式是（）、（）和（）。

介質(zhì)的折射率n與光在該介質(zhì)中的傳播速度v之間的關(guān)系是（）。