A.顯著下降至少6dB
B.不明顯下降大約-3dB
C.顯著上升至少6dB
D.不明顯上升大約1-3dB
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A.顯著下降至少20dB
B.顯著下降至少12dB
C.顯著下降至少6dB
D.不明顯下降大約1dB
A.只有埋藏缺陷
B.只有表面開口缺陷
C.各種缺陷,幾乎與指向性無關(guān)
D.只有面積性缺陷
A.可行性更高
B.定量精度更高
C.檢測(cè)效率更高
D.缺陷定性更準(zhǔn)確
A.缺陷與標(biāo)準(zhǔn)反射體的形狀和表面粗糙度不同
B.工件與標(biāo)準(zhǔn)試塊的表面粗糙度不同,操作時(shí)對(duì)探頭的壓緊力改變
C.缺陷的傾斜角度
D.以不均不會(huì)
A.采用較小的PCS和較窄的波束寬度
B.采用較小的PCS和低的頻率
C.采用較大的PCS和較窄的波束寬度
D.采用較大的PCS和較高的頻率
最新試題
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
通常所謂20KV的X射線是指()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
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康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
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對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
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