填空題X熒光分析法基體的影響可分兩大類,一類是()引起的,另一類是樣品粒度,表面結(jié)構(gòu)等造成的。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
最新試題
氧氮分析儀測氮時,是通過紅外池檢測試樣熔融后釋放出的氮氣量來檢測的。
題型:判斷題
ICP光譜儀中石英炬管清洗時用的酸是()。
題型:多項選擇題
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
題型:單項選擇題
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點是()。
題型:多項選擇題
空氣-Ar-ICP的缺點是()。
題型:多項選擇題
選用ICP-AES儀器,同時可以進行()。
題型:多項選擇題
ICP光譜儀中的等離子炬管有三種氣體通過,它們分別是()。
題型:多項選擇題
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測定過程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無需任何預(yù)處理。
題型:判斷題
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。
題型:多項選擇題
鋼鐵中氫含量采用脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測定時,根據(jù)熱導(dǎo)池輸出電流值與氫的濃度關(guān)系,從校準(zhǔn)曲線上得到氫含量。
題型:判斷題