X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是（）。

ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點(diǎn)是（）。

高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過(guò)程中，陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用，無(wú)需任何預(yù)處理。

紅外吸收法分析碳和硫時(shí)，可以用同一個(gè)紅外池來(lái)檢測(cè)。

ICP所用的氣動(dòng)霧化器有三種基本類型，它們分別是（）。

直讀光譜分析鐵水試樣時(shí)，鐵水試樣必須白口化。

脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量，分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器，所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。

ICP光譜干擾包括（）。

ICP-AES法中檢出限高低取決于（）。

紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池，高量程的池體短，相應(yīng)紅外光程短。