A、較高的比較器水平可以縮短總的分析時(shí)間。
B、低的比較器水平包括了更多的試樣氣體,因此用于結(jié)果計(jì)算的氮和氧也多。
C、比較器水平設(shè)置過低,盡管包括的低濃度不顯著影響結(jié)果(噪聲),但會使分析延長。
D、比較器水平越低越好。
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你可能感興趣的試題
A、C和Si;
B、Mn和As;
C、P和S
A、150mm、300mm、700mm;
B、150mm、400mm、700mm;
C、150mm、300mm、500mm;
D、150mm、300mm、500mm;
A、5
B、8.5
C、24
A、碳池
B、硫池
C、同樣
A、48℃
B、340℃
C、400℃
最新試題
碳硫分析儀器短期或長期不使用時(shí),應(yīng)間隔一段時(shí)間,開一次機(jī)。
直讀光譜儀使用一段時(shí)間后需要清理廢氣過濾器,廢氣過濾器需放置一段時(shí)間后才能打開,以防自燃。
金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素,通常為基體元素。
原子熒光法做檢出限測試時(shí)應(yīng)對空白樣品連續(xù)測定7次。
原子熒光儀更換空心陰極燈時(shí)應(yīng)先將主、輔電流調(diào)到零處,然后關(guān)閉主機(jī)電源才能換燈。
裝有乙炔氣體的鋼瓶必須放在避光的室內(nèi),不能放在膠皮的上面。
高頻感應(yīng)紅外線吸收法測定鐵合金中碳硫含量,批量分析時(shí)應(yīng)每測定一定數(shù)量樣品,插做一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品,檢查儀器的線性是否漂移。
X射線熒光光譜分析中,含吸附水的樣品會影響抽真空的效果,導(dǎo)致分析延時(shí)。
鋼鐵中碳分析,如果采用常規(guī)化學(xué)方法,需要隨同試料做空白試驗(yàn)。
從ICP-AES干擾原理出發(fā),使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。