紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對(duì)二氧化硫的檢測(cè)。

金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素，通常為基體元素。

從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。

原子熒光儀外表面可用濕抹布擦拭，但應(yīng)斷電，防止短路。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

儀器結(jié)果保存時(shí)應(yīng)該分類，并按照年月日依次保存，不能重復(fù)命名，便于上傳時(shí)和以后查找。

原子熒光法做檢出限測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測(cè)定7次。

高頻感應(yīng)紅外線吸收法測(cè)定鎢鐵中碳硫含量，氧氣源發(fā)生改變時(shí)，應(yīng)重新對(duì)工作曲線進(jìn)行校正。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。

原子熒光儀中檢測(cè)器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對(duì)檢測(cè)原子熒光信號(hào)的干擾。