ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計。

X射線熒光光譜法玻璃熔片法測量爐渣時，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。

氧氮分析儀器長期運行和頻繁使用，儀器的各部件會發(fā)生老化和磨損，因此分析人員要定期檢查與維護儀器。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時。

氧氮分析儀中稀土氧化銅的作用是將一氧化碳氧化為二氧化碳。

原子熒光法做檢出限測試時應(yīng)對空白樣品連續(xù)測定7次。

直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點，凝聚放電是好的，擴散放電是不好的。

直讀光譜儀使用一段時間后需要清理廢氣過濾器，廢氣過濾器需放置一段時間后才能打開，以防自燃。

碳硫分析儀器短期或長期不使用時，應(yīng)間隔一段時間，開一次機。

紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對二氧化硫的檢測。