原子吸收光譜法測(cè)定被測(cè)元素，為了保證數(shù)據(jù)能夠上傳，必須將樣品編號(hào)輸完整。

X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí)，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。

金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素，通常為基體元素。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。

ICP矩焰形成通稱點(diǎn)火，和火焰原子吸收法一樣，都是把工作氣體點(diǎn)燃，形成高溫的火焰。

氧氮分析儀器長(zhǎng)期運(yùn)行和頻繁使用，儀器的各部件會(huì)發(fā)生老化和磨損，因此分析人員要定期檢查與維護(hù)儀器。

原子熒光儀中檢測(cè)器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對(duì)檢測(cè)原子熒光信號(hào)的干擾。

直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。

碳硫分析儀器短期或長(zhǎng)期不使用時(shí)，應(yīng)間隔一段時(shí)間，開(kāi)一次機(jī)。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。