問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述射線照相檢驗(yàn)法的原理

答案： 射線在透照工件時(shí)，由于射線能量衰減程度與材料密度和厚度有關(guān)，所以有缺陷部位與無(wú)缺陷部位對(duì)射線能量的吸收不同，因而透過(guò)有缺...
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