A.對(duì)特定離子呈Nernst響應(yīng)的敏感膜
B.內(nèi)參比電極
C.內(nèi)參比溶液
D.電極桿
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你可能感興趣的試題
A.固定溶液的離子強(qiáng)度
B.恒定溶液的pH值
C.掩蔽干擾離子
D.消除液接電位
A.消除溫度的影響
B.提高測(cè)定的靈敏度
C.扣除待測(cè)電池電動(dòng)勢(shì)與試液pH值關(guān)系式中的“K”
D.消除干擾離子的影響
A.提高測(cè)定結(jié)果的精密度
B.維持溶液具有相同的活度系數(shù)和副反應(yīng)系數(shù)
C.消除干擾離子
D.提高響應(yīng)速度
A.內(nèi)外玻璃膜表面特性不同
B.內(nèi)外溶液中H+濃度不同
C.內(nèi)外溶液的H活度系數(shù)不同
D.內(nèi)外參比電極不一樣
A.估計(jì)電極的檢測(cè)限
B.估計(jì)共存離子的干擾程度
C.校正方法誤差
D.計(jì)算電極的響應(yīng)斜率
最新試題
ICP光譜干擾包括()。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過(guò)紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼?lái)檢測(cè)的。
空氣-Ar-ICP的缺點(diǎn)是()。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。
使用CS600測(cè)定純鐵中超低碳硫含量,控制分析空白是關(guān)鍵。
ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點(diǎn)是()。
原子熒光光譜法制作工作曲線(xiàn)時(shí),相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,目前大量應(yīng)用于鐵合金中主次元素的測(cè)定,含量范圍廣,其具有的特點(diǎn)是()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。