A.極限擴(kuò)散電流是個常數(shù)
B.極限擴(kuò)散電流與被測物質(zhì)的濃度成正比
C.擴(kuò)散電流與被測物質(zhì)的濃度成正比
D.峰電位φp(V)是與被測物質(zhì)的半波電位有關(guān)的常數(shù)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.任一物質(zhì)的極譜波的半波電位是個常數(shù)
B.只有可逆極譜波的半波電位是個常數(shù)
C.只有不可逆極譜波的半波電位是個常數(shù)
D.任一物質(zhì)的極譜波的極限擴(kuò)散電流是個常數(shù)
A.電極反應(yīng)適用能斯特公式
B.擴(kuò)散速度比電極反應(yīng)速度小
C.電極反應(yīng)不表現(xiàn)出明顯的過電位
D.表現(xiàn)出明顯的過電位,存在著電化學(xué)極化,不能間單應(yīng)用能斯特公式
A.電極反應(yīng)適用能斯特公式
B.擴(kuò)散速度比電極反應(yīng)速度大
C.電極反應(yīng)表現(xiàn)出明顯的過電位
D.有電化學(xué)極化
A.極譜波的極限擴(kuò)散電流id
B.極譜波的擴(kuò)散電流i
C.極譜波的峰值電位φ
D.當(dāng)組分和溫度一定時(shí),每一種物質(zhì)的半波電位φ1/2是個定值
A.扣除殘余電流的極限擴(kuò)散電流id或平均極限電流6/7imax與被測物質(zhì)的濃度成正比
B.擴(kuò)散電流i與被測物質(zhì)的濃度成正比
C.半波電位φ1/2與被測物質(zhì)的濃度成反比
D.極限擴(kuò)散電流id與被測物質(zhì)的電極表面濃度C0成正比
最新試題
ICP光譜儀中的等離子炬管有三種氣體通過,它們分別是()。
ICP光譜干擾包括()。
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點(diǎn)是()。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,目前大量應(yīng)用于鐵合金中主次元素的測定,含量范圍廣,其具有的特點(diǎn)是()。
原子吸收光譜測量的結(jié)果,只要線性好,平行好,結(jié)果準(zhǔn)確度就高。
LZ50中氧氮含量的測定,分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來水源。