A.電解電流
B.擴(kuò)散電流
C.極限電流
D.充電電流
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A.殘余電流和擴(kuò)散電流
B.殘余電流.遷移電流和擴(kuò)散電流
C.遷移電流和擴(kuò)散電流
D.殘余電流和遷移電流
A.擴(kuò)散系數(shù)D
B.汞滴流速m
C.滴汞周期t
D.半波電位E1/2
A.極譜半波電位相同的,都是同一種物質(zhì)
B.極譜半波電位隨被測(cè)離子濃度的變化而變化
C.當(dāng)溶液的組成一定時(shí),任一物質(zhì)的半波電位相同
D.半波電位是極譜定量分析的依據(jù)
A.i∝h1/2
B.i21/3
C.iD∝h
D.iD∝h
A.消除擴(kuò)散電流
B.消除遷移電流
C.消除電容電流
D.消除殘余電流
最新試題
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是()。
使用CS600測(cè)定純鐵中超低碳硫含量,控制分析空白是關(guān)鍵。
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。
原子吸收光譜測(cè)量的結(jié)果,只要線性好,平行好,結(jié)果準(zhǔn)確度就高。
選用ICP-AES儀器,同時(shí)可以進(jìn)行()。
鋼鐵中氫含量采用脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定時(shí),根據(jù)熱導(dǎo)池輸出電流值與氫的濃度關(guān)系,從校準(zhǔn)曲線上得到氫含量。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼頇z測(cè)的。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。