ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。

直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。

X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí)，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。

鋼鐵中碳分析，如果采用常規(guī)化學(xué)方法，需要隨同試料做空白試驗(yàn)。

碳硫分析儀器短期或長期不使用時(shí)，應(yīng)間隔一段時(shí)間，開一次機(jī)。

原子吸收光譜法測(cè)定被測(cè)元素，為了保證數(shù)據(jù)能夠上傳，必須將樣品編號(hào)輸完整。

在原子熒光光譜分析中，同種元素銳線光源有利于共振熒光的激發(fā)。

選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。

直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。