原子熒光儀中檢測器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對檢測原子熒光信號的干擾。

火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。

ICP矩焰形成通稱點火，和火焰原子吸收法一樣，都是把工作氣體點燃，形成高溫的火焰。

紅外碳硫儀中的紅外檢測池具有單一性，各紅外池間不可互相代用。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計。

鋼鐵中碳分析，如果采用常規(guī)化學(xué)方法，需要隨同試料做空白試驗。

原子吸收光譜法測定被測元素，為了保證數(shù)據(jù)能夠上傳，必須將樣品編號輸完整。

X射線熒光光譜法玻璃熔片法測量爐渣時，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。

高頻感應(yīng)紅外線吸收法測定鎢鐵中碳硫含量，氧氣源發(fā)生改變時，應(yīng)重新對工作曲線進(jìn)行校正。

高頻感應(yīng)紅外線吸收法測定鐵合金中碳硫含量，批量分析時應(yīng)每測定一定數(shù)量樣品，插做一個標(biāo)準(zhǔn)樣品，檢查儀器的線性是否漂移。