直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點，凝聚放電是好的，擴散放電是不好的。

ICP-AES分析中的化學干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計。

高頻感應(yīng)紅外線吸收法測定鎢鐵中碳硫含量，氧氣源發(fā)生改變時，應(yīng)重新對工作曲線進行校正。

ICPMS微波消解溶樣時開啟微波消解罐時應(yīng)戴好手套和防護眼鏡。

儀器結(jié)果保存時應(yīng)該分類，并按照年月日依次保存，不能重復(fù)命名，便于上傳時和以后查找。

原子熒光儀外表面可用濕抹布擦拭，但應(yīng)斷電，防止短路。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時。

從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標準加入法可以有效地消除光譜干擾。

直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對分析結(jié)果有影響。

紅外碳硫儀中的紅外檢測池具有單一性，各紅外池間不可互相代用。