直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn)，凝聚放電是好的，擴(kuò)散放電是不好的。

選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。

紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對(duì)二氧化硫的檢測(cè)。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。

X射線熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑，氧化劑只能以固體形式加入。

直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。

ICPMS微波消解溶樣時(shí)開啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。

氧氮分析儀器長期運(yùn)行和頻繁使用，儀器的各部件會(huì)發(fā)生老化和磨損，因此分析人員要定期檢查與維護(hù)儀器。

紅外碳硫儀中的紅外檢測(cè)池具有單一性，各紅外池間不可互相代用。