A.分光光度法
B.中子活化
C.極譜法
D.電位滴定法
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A.小于1%
B.1%-10%
C.30%-50%
D.90%-99%
A.P<F<S
B.S=F<P
C.P<S<F
D.F>P>S
A.+0.6%
B.+1.7%
C.+3.5%
D.+7.6%
A.+6.6%
B.+4.2%
C.+3.4%
D.+2.1%
A.+2.5%
B.+5.0%
C.+9.5%
D.+12.5%
最新試題
紅外碳硫儀中的紅外檢測(cè)池具有單一性,各紅外池間不可互相代用。
X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí),可以使用純氧化物配比建立工作曲線。
儀器結(jié)果保存時(shí)應(yīng)該分類,并按照年月日依次保存,不能重復(fù)命名,便于上傳時(shí)和以后查找。
裝有乙炔氣體的鋼瓶必須放在避光的室內(nèi),不能放在膠皮的上面。
碳硫分析儀器短期或長(zhǎng)期不使用時(shí),應(yīng)間隔一段時(shí)間,開(kāi)一次機(jī)。
選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí),使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
原子吸收光度法,WM-2H型無(wú)油氣體壓縮機(jī),表壓不在“0”為時(shí),不得開(kāi)機(jī)。
原子熒光儀外表面可用濕抹布擦拭,但應(yīng)斷電,防止短路。
原子熒光儀中檢測(cè)器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對(duì)檢測(cè)原子熒光信號(hào)的干擾。