在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

（）件對不同類型的檢測對象和要求，采用的方式各有不同。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生（）

根據(jù)檢測對象和目的的不同，渦流檢測儀器一般可分為（）、渦流電導儀和渦流測厚儀三種。

對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。

渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出（）的相關信息。

對檢測儀的時間基線進行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。

用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。

渦流檢測中的對比試樣的（）和材質相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。