A、連續(xù)波
B、脈沖波
C、近場(chǎng)波
D、以上都不對(duì)
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A、能量
B、波幅高度
C、持續(xù)時(shí)間
D、以上都對(duì)
A、連續(xù)波
B、脈沖波
C、近場(chǎng)波
D、以上都不對(duì)
A、振動(dòng)方程
B、反射定理
C、折射定理
D、壓電方程
A、X=Acos(ωt-φ)
B、X=Acos(ωt+φ)
C、X=Asin(ωt+φ)
D、X=Asin(ωt-φ)
A、熱處理法
B、機(jī)械法
C、振動(dòng)法
D、以上都對(duì)
最新試題
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
對(duì)于圓盤(pán)形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同,渦流檢測(cè)儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
掃查方式一般視試件的()而定。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為()mm,峰值波長(zhǎng)為365mm。
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()