對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時，移動探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。

采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實用AVG曲線。

各類渦流檢測儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。

在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

渦流檢測線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。

對檢測儀的時間基線進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。

無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為（）mm，峰值波長為365mm。

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。