單項(xiàng)選擇題大晶粒金屬零件進(jìn)行射線照相時(shí)，利用提高管電壓和使用鉛增感屏可以（）。
A、增大衍射斑的影響
B、減少或消除衍射斑的影響
C、增大焦距的影響
D、以上任何一種
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1.單項(xiàng)選擇題膠片特性曲線斜率可判別膠片的下列特性（）。
A、感光度
B、梯度
C、灰霧度
D、以上都對(duì)
2.單項(xiàng)選擇題X射線底片清晰度不好，可能是由于（）。
A、采用非增感型膠片、鉛增感組合
B、采用低管壓、高電流照相
C、采用增感型膠片與熒光增感屏組合
D、射線管焦點(diǎn)小
3.單項(xiàng)選擇題連續(xù)寬束X射線透照試件，試件的厚度越大，則散射比越大，平均衰減系數(shù)（）。
A、越小
B、越大
C、無(wú)變化
D、以上全對(duì)
4.單項(xiàng)選擇題硬X射線比軟X射線的波長(zhǎng)短，衰減系數(shù)，半價(jià)層厚（）。
A、小
B、大
C、無(wú)變化
D、以上全對(duì)
5.單項(xiàng)選擇題在定影液中，（）起防止大蘇打被分解的作用。
A、米吐?tīng)?br />
B、溴化鉀
C、亞硫酸鈉
D、對(duì)苯二酚
最新試題
缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來(lái)表示缺陷的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時(shí)，移動(dòng)探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于長(zhǎng)條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于圓盤(pán)形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
各類(lèi)渦流檢測(cè)儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題